DOST lanceert nieuwe nanoschaal-analyseapparatuur voor materiaalonderzoek en defectdetectie

Het Ministerie van Wetenschap en Technologie (DOST) heeft nieuwe apparatuur onthuld die in staat is materialen te analyseren en defecten op nanoschaal te detecteren, met als doel bedrijven te helpen de productkwaliteit te verbeteren en de productie van elektronische apparaten te stimuleren.

De nieuw aangeschafte apparatuur, de Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), in het Advanced Device and Materials Testing Laboratory (ADMATEL) in Bicutan, Taguig, zal samen met Energy Dispersive X-ray (EDX) en Electron Backscatter Diffraction (EBSD) analysatoren worden gebruikt om de mogelijkheden van de faciliteit op het gebied van materiaaltest en faalanalyse te verbeteren.

DOST-secretaris Renato U. Solidum Jr. zei dat de apparatuur de geavanceerde onderzoeks- en productiecapaciteiten van het land versterkt, omdat deze materialen op nanoschaal kan detecteren.

"Deze technologie maakt nauwkeurige karakterisering van nanodeeltjes, nanobuizen en geavanceerde materialen mogelijk, evenals gedetailleerde analyse van dunne films en meerlaagse coatings die essentieel zijn voor moderne technologieën," aldus de heer Solidum in een verklaring.

Tot de potentiële gebruikers behoren halfgeleiderbedrijven, academische instellingen en onderzoeksorganisaties, evenals degenen die biologische monsters en geavanceerde nanomaterialen analyseren.

"Het stelt onze lokale bedrijven in staat om niet alleen problemen op te lossen, maar om vanaf het begin betere, betrouwbaardere producten te ontwerpen," zei de heer Solidum, eraan toevoegend dat de halfgeleider- en elektronica-industrie de belangrijkste aanjagers van economische groei blijven in het snel veranderende technologische landschap van vandaag.

Volgens Danilo C. Lachica, president van de Semiconductor and Electronics Industries in the Philippines Foundation, Inc. (SEIPI), stelt de FE-SEM nauwkeurig onderzoek mogelijk van apparaatstructuren, interfaces, materiaalgedrag en procesgerelateerde variaties die de prestaties en betrouwbaarheid kunnen beïnvloeden.

Hij wees ook op het belang ervan bij defectdetectie, oorzaakanalyse, procesverbetering, validatie en het oplossen van complexe betrouwbaarheidsproblemen.

ADMATEL zei dat het testdiensten zal blijven verlenen aan lokale en internationale klanten en moedigt onderzoekers, industriepartners en instellingen aan om samen te werken aan geavanceerde materiaalkarakterisering en halfgeleideranalyse.

Het initiatief maakt deel uit van de programma's van DOST die op wetenschap gebaseerde, innovatieve en inclusieve oplossingen bevorderen onder de vier strategische pijlers—menselijk welzijn, welvaartscreatie, welvaartsbescherming en duurzaamheid—via het OneDOST4U-kader. — Edg Adrian A. Eva