DOST เปิดตัวอุปกรณ์วิเคราะห์ระดับนาโนสเกลใหม่สำหรับการวิจัยวัสดุและการตรวจจับข้อบกพร่อง

กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี (DOST) ได้เปิดตัวอุปกรณ์ใหม่ที่สามารถวิเคราะห์วัสดุและตรวจจับข้อบกพร่องในระดับนาโนสเกล โดยมีวัตถุประสงค์เพื่อช่วยให้บริษัทต่างๆ ปรับปรุงคุณภาพผลิตภัณฑ์และเพิ่มการผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์

อุปกรณ์ที่เพิ่งได้รับมาใหม่นี้มีชื่อว่า Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) ซึ่งติดตั้งอยู่ที่ Advanced Device and Materials Testing Laboratory (ADMATEL) ในบิคูตัน เมืองตากีก จะถูกใช้ร่วมกับเครื่องวิเคราะห์ Energy Dispersive X-ray (EDX) และ Electron Backscatter Diffraction (EBSD) เพื่อเพิ่มขีดความสามารถของสถานที่ในด้านการทดสอบวัสดุและการวิเคราะห์ความล้มเหลว

รัฐมนตรีว่าการกระทรวง DOST นาย Renato U. Solidum Jr. กล่าวว่าอุปกรณ์ดังกล่าวช่วยเสริมสร้างขีดความสามารถด้านการวิจัยขั้นสูงและการผลิตของประเทศ เนื่องจากสามารถตรวจจับวัสดุในระดับนาโนสเกลได้

"เทคโนโลยีนี้ช่วยให้สามารถระบุลักษณะของนาโนพาร์ติเคิล นาโนท่อ และวัสดุขั้นสูงได้อย่างแม่นยำ รวมถึงการวิเคราะห์ฟิล์มบางและชั้นเคลือบหลายชั้นที่จำเป็นสำหรับเทคโนโลยีสมัยใหม่อย่างละเอียด" นาย Solidum กล่าวในแถลงการณ์

กลุ่มผู้ใช้งานที่มีศักยภาพ ได้แก่ บริษัทเซมิคอนดักเตอร์ สถาบันการศึกษา และองค์กรวิจัย รวมถึงผู้ที่วิเคราะห์ตัวอย่างทางชีวภาพและนาโนวัสดุขั้นสูง

"มันช่วยให้บริษัทในท้องถิ่นของเราไม่เพียงแค่แก้ไขปัญหา แต่ยังออกแบบผลิตภัณฑ์ที่ดีกว่าและเชื่อถือได้มากกว่าตั้งแต่ต้น" นาย Solidum กล่าว พร้อมเสริมว่าอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์และอิเล็กทรอนิกส์ยังคงเป็นแรงขับเคลื่อนหลักของการเติบโตทางเศรษฐกิจในภูมิทัศน์เทคโนโลยีที่เปลี่ยนแปลงอย่างรวดเร็วในปัจจุบัน

สำหรับประธาน Semiconductor and Electronics Industries in the Philippines Foundation, Inc. (SEIPI) นาย Danilo C. Lachica กล่าวว่า FE-SEM ช่วยให้สามารถตรวจสอบโครงสร้างอุปกรณ์ อินเทอร์เฟซ พฤติกรรมของวัสดุ และการเปลี่ยนแปลงที่เกี่ยวข้องกับกระบวนการที่อาจส่งผลต่อประสิทธิภาพและความน่าเชื่อถือได้อย่างแม่นยำ

เขายังได้ระบุถึงความสำคัญของอุปกรณ์นี้ในด้านการตรวจจับข้อบกพร่อง การวิเคราะห์สาเหตุรากเหง้า การปรับปรุงกระบวนการ การตรวจสอบความถูกต้อง และการแก้ไขปัญหาความน่าเชื่อถือที่ซับซ้อน

ADMATEL กล่าวว่าจะยังคงให้บริการทดสอบแก่ลูกค้าทั้งในประเทศและต่างประเทศต่อไป และกำลังสนับสนุนให้นักวิจัย พันธมิตรอุตสาหกรรม และสถาบันต่างๆ ร่วมมือกันในด้านการระบุลักษณะวัสดุขั้นสูงและการวิเคราะห์เซมิคอนดักเตอร์

โครงการริเริ่มนี้เป็นส่วนหนึ่งของโปรแกรมของ DOST ที่ส่งเสริมการแก้ปัญหาที่อิงวิทยาศาสตร์ นวัตกรรม และครอบคลุม ภายใต้เสาหลักเชิงกลยุทธ์สี่ประการ ได้แก่ ความเป็นอยู่ที่ดีของมนุษย์ การสร้างความมั่งคั่ง การปกป้องความมั่งคั่ง และความยั่งยืน ผ่านกรอบ OneDOST4U — Edg Adrian A. Eva