Bộ Khoa học và Công nghệ (DOST) đã ra mắt thiết bị mới có khả năng phân tích vật liệu và phát hiện các khiếm khuyết ở cấp độ nano, nhằm hỗ trợBộ Khoa học và Công nghệ (DOST) đã ra mắt thiết bị mới có khả năng phân tích vật liệu và phát hiện các khiếm khuyết ở cấp độ nano, nhằm hỗ trợ

DOST ra mắt thiết bị phân tích nano mới phục vụ nghiên cứu vật liệu và phát hiện khuyết tật

2026/04/30 17:24
Đọc trong 3 phút
Đối với phản hồi hoặc thắc mắc liên quan đến nội dung này, vui lòng liên hệ với chúng tôi qua [email protected]

Bộ Khoa học và Công nghệ (DOST) vừa ra mắt thiết bị mới có khả năng phân tích vật liệu và phát hiện khuyết điểm ở cấp độ nano, nhằm giúp các doanh nghiệp nâng cao chất lượng sản phẩm và thúc đẩy sản xuất thiết bị điện tử.

Được gọi là Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM), thiết bị mới được trang bị tại Phòng thí nghiệm Kiểm tra Thiết bị và Vật liệu Tiên tiến (ADMATEL) ở Bicutan, Taguig sẽ được sử dụng cùng với các máy phân tích Tán xạ năng lượng tia X (EDX) và Nhiễu xạ ngược điện tử (EBSD) để nâng cao năng lực của cơ sở trong kiểm tra vật liệu và phân tích sự cố.

Bộ trưởng DOST Renato U. Solidum Jr. cho biết thiết bị này giúp tăng cường năng lực nghiên cứu tiên tiến và sản xuất của đất nước vì có thể phát hiện vật liệu ở cấp độ nano.

"Công nghệ này cho phép mô tả chính xác các hạt nano, ống nano và vật liệu tiên tiến, cũng như phân tích chi tiết màng mỏng và lớp phủ đa lớp thiết yếu cho các công nghệ hiện đại," ông Solidum cho biết trong một tuyên bố.

Trong số những người dùng tiềm năng có các công ty bán dẫn, cơ sở học thuật và tổ chức nghiên cứu, cũng như những đơn vị phân tích mẫu sinh học và vật liệu nano tiên tiến.

"Thiết bị này giúp các doanh nghiệp trong nước không chỉ khắc phục sự cố mà còn thiết kế sản phẩm tốt hơn, đáng tin cậy hơn ngay từ đầu," ông Solidum nói, đồng thời nhấn mạnh rằng ngành bán dẫn và điện tử vẫn là động lực tăng trưởng kinh tế chủ chốt trong bối cảnh công nghệ thay đổi nhanh chóng hiện nay.

Đối với Chủ tịch Tổ chức Ngành Bán dẫn và Điện tử tại Philippines (SEIPI) Danilo C. Lachica, FE-SEM cho phép kiểm tra chính xác cấu trúc thiết bị, giao diện, đặc tính vật liệu và các biến thể liên quan đến quy trình có thể ảnh hưởng đến hiệu suất và độ tin cậy.

Ông cũng nhấn mạnh tầm quan trọng của thiết bị trong việc phát hiện khuyết điểm, phân tích nguyên nhân gốc rễ, cải tiến quy trình, xác nhận và giải quyết các vấn đề độ tin cậy phức tạp.

ADMATEL cho biết sẽ tiếp tục cung cấp dịch vụ kiểm tra cho các khách hàng trong nước và quốc tế, đồng thời khuyến khích các nhà nghiên cứu, đối tác ngành và các tổ chức hợp tác trong lĩnh vực mô tả vật liệu tiên tiến và phân tích bán dẫn.

Sáng kiến này là một phần trong các chương trình của DOST nhằm thúc đẩy các giải pháp dựa trên khoa học, sáng tạo và toàn diện theo bốn trụ cột chiến lược—phúc lợi con người, tạo ra của cải, bảo vệ của cải và phát triển bền vững—thông qua khung OneDOST4U. — Edg Adrian A. Eva

Tuyên bố miễn trừ trách nhiệm: Các bài viết được đăng lại trên trang này được lấy từ các nền tảng công khai và chỉ nhằm mục đích tham khảo. Các bài viết này không nhất thiết phản ánh quan điểm của MEXC. Mọi quyền sở hữu thuộc về tác giả gốc. Nếu bạn cho rằng bất kỳ nội dung nào vi phạm quyền của bên thứ ba, vui lòng liên hệ [email protected] để được gỡ bỏ. MEXC không đảm bảo về tính chính xác, đầy đủ hoặc kịp thời của các nội dung và không chịu trách nhiệm cho các hành động được thực hiện dựa trên thông tin cung cấp. Nội dung này không cấu thành lời khuyên tài chính, pháp lý hoặc chuyên môn khác, và cũng không được xem là khuyến nghị hoặc xác nhận từ MEXC.