DOST推出新型纳米级分析设备，用于材料研究与缺陷检测

科学技术部（DOST）推出了能够在纳米尺度上分析材料和检测缺陷的新设备，旨在帮助企业提升产品质量并促进电子设备的生产。

这台新设备名为场发射扫描电子显微镜（FE-SEM），已安装于达义市比库坦的先进设备与材料测试实验室（ADMATEL），将与能量色散X射线（EDX）及电子背散射衍射（EBSD）分析仪配合使用，以提升该实验室在材料测试和失效分析方面的能力。

科学技术部部长Renato U. Solidum Jr.表示，该设备可在纳米尺度上检测材料，从而加强了国家的先进研究与制造能力。

"这项技术能够精确表征纳米颗粒、纳米管及先进材料，并对现代技术所必需的薄膜和多层涂层进行详细分析，"Solidum先生在声明中说道。

其潜在用户包括半导体公司、学术机构和研究组织，以及分析生物样本和先进纳米材料的单位。

"它不仅能帮助本地企业解决问题，更能让他们从一开始就设计出更好、更可靠的产品，"Solidum先生说道，并补充指出，在当今瞬息万变的技术格局中，半导体和电子行业仍是经济增长的重要驱动力。

菲律宾半导体与电子工业基金会（SEIPI）主席Danilo C. Lachica表示，FE-SEM能够精确检测设备结构、界面、材料行为以及可能影响性能和可靠性的工艺相关变化。

他还指出，该设备在缺陷检测、根本原因分析、工艺改进、验证以及解决复杂可靠性问题方面具有重要意义。

ADMATEL表示，将继续为本地及国际客户提供测试服务，并鼓励研究人员、行业伙伴及机构在先进材料表征和半导体分析方面展开合作。

此项举措是科学技术部相关计划的一部分，旨在通过OneDOST4U框架，在人类福祉、财富创造、财富保护及可持续发展四大战略支柱下，推动基于科学、创新及包容性的解决方案。— Edg Adrian A. Eva